齿厚卡尺综合误差检具

主要用于齿厚卡尺综合误差检定。
规格：5*40mm 12*50mm 18*50mm 35*50mm
精度：＜0.002mm

量块艾利点支承架

适用于测长仪、测长机和卧式光学计上支承125～1000mm大量块检测；
亦能支承(Φ8～Φ14)mm的圆柱形被测件。
 

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